Рассмотрен алгоритм сжатия изображений растровой электронной микроскопии с помощью сингулярного разложения матриц — Singular Value Decomposition (SVD). Показана возможность существенно уменьшить размерность задачи без потери качества изображений при исключении малозначимых компонент. Проведен анализ полученных данных для различных микрофотографий. Сделан вывод, что эффективность алгоритма значительно выше в том случае, если на изображении преобладают элементы с простой геометрической формой.

Ключевые слова: растровая электронная микроскопия; цифровая обработка сигналов и изображений; сингулярное разложение матриц; анализ главных компонент.

Просмотреть статью